Microscope à force atomique (AFM)

Instrument qui permet de déterminer le relief d'une surface à l'échelle des atomes. Il est doté d'une pointe extrêmement fine (quelques nanomètres) placée sur un levier flexible. Cette pointe est à la fois attirée et repoussée par les atomes de la surface. Ces forces de répulsion/attraction provoquent des déplacements de la pointe, ce qui fait dévier le levier. Ces déviations sont enregistrées puis transformées en relief. On obtient ainsi une « image » de la surface, atome après atome.